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X射线粒度测定用α-SiO2标准物质
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| 产品基本信息 |
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产品编号：GBW(E)130015
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产品名称：X射线粒度测定用α-SiO2标准物质
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产品CAS：
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规格含量：
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| 产品详细信息 |
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| 产品ID号 |
16397 |
| 产品编号 |
GBW(E)130015 |
| 产品名称 |
X射线粒度测定用α-SiO2标准物质 |
| 英文名称 |
α-SiO2 for Correction of X-ray Diffraction |
| CAS号 |
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| 分子式 |
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| 分子量 |
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| 标准值 |
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| 物质规格 |
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| 物质形态 |
固态 |
| 基质/介质 |
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| 有效期 |
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| 分析方法 |
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| 保存条件 |
置于清洁、阴凉处保存。 |
| 注意事项 |
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| 应用领域 |
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| 量值信息 |
| 组分 |
标准值 |
物质偏差 |
单位 |
| 晶格常数(?),25±1℃ a |
4.9133 |
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晶格常数(?),25±1℃ |
| 晶格常数(?),25±1℃ σ(a) |
0.0001 |
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晶格常数(?),25±1℃ |
| 晶格常数(?),25±1℃ C |
5.4051 |
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晶格常数(?),25±1℃ |
| 晶格常数(?),25±1℃ σ(c) |
0.0001 |
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晶格常数(?),25±1℃ |
| 【 相关链接 】 |
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